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XTU-50B 鍍層膜厚分析儀能量色散熒光光譜儀X射線熒光光譜儀是公司經(jīng)過3年研發(fā),專門針對(duì)金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達(dá)克羅涂覆層分析的普及機(jī)型,三重射線防護(hù)系統(tǒng);人性化操作界面;*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定,即可對(duì)客戶樣品鍍層膜厚測(cè)試、基材成分分析。精心設(shè)計(jì)的開放式工作曲線功能,特別適用于工藝復(fù)雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。
更新時(shí)間:2018-03-02
XTU-50B 鍍層膜厚分析儀能量色散X熒光光譜儀
一、產(chǎn)品型號(hào)
1、產(chǎn)品型號(hào) | ||||||||
型號(hào): Ux-720 鍍層膜厚檢測(cè)儀
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二、儀器簡(jiǎn)介
2.1 儀器概述
XTU-50B 鍍層膜厚分析儀能量色散熒光光譜儀X射線熒光光譜儀是公司經(jīng)過3年研發(fā),專門針對(duì)金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達(dá)克羅涂覆層分析的普及機(jī)型,三重射線防護(hù)系統(tǒng);人性化操作界面;*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定,即可對(duì)客戶樣品鍍層膜厚測(cè)試、基材成分分析。精心設(shè)計(jì)的開放式工作曲線功能,特別適用于工藝復(fù)雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。
2.2 XTU-50B 鍍層膜厚分析儀能量色散熒光光譜儀性能優(yōu)勢(shì)
1.*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定,即對(duì)樣品鍍層膜厚進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)試
2.除可對(duì)金屬鍍層測(cè)試外,還可對(duì)合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進(jìn)行精確測(cè)量,開創(chuàng)了XRF對(duì)鍍層測(cè)厚的全面技術(shù)
3.軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動(dòng)設(shè)定光管功率,既能延長(zhǎng)光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測(cè)器性能,大幅提高測(cè)量精度
4.業(yè)內(nèi)*提供開放式工作曲線標(biāo)定平臺(tái),可為每家用戶量身定做*的鍍層分析工作曲線
5.三重射線防護(hù)(軟件、硬件、迷宮設(shè)計(jì)),確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害
6.儀器外部對(duì)樣品微調(diào)設(shè)計(jì),降低及防止樣品放置好后關(guān)閉樣品蓋產(chǎn)生振動(dòng)而使測(cè)試位置發(fā)生變化導(dǎo)致的測(cè)試不準(zhǔn)確性
7.可根據(jù)用戶要求自行定制測(cè)試報(bào)告輸出格式(Excel、PDF等),符合工廠多種統(tǒng)計(jì)及格式要求
8.業(yè)內(nèi)*家對(duì)達(dá)克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法,*取代金相顯微鏡技術(shù)在該行業(yè)的應(yīng)用
9.軟件對(duì)多次測(cè)試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析功能
10.業(yè)內(nèi)*家既可以測(cè)試鍍層厚度,又可以同時(shí)分析基材及鍍層成分的XRF
2.3 XTU-50B 鍍層膜厚分析儀能量色散熒光光譜儀技術(shù)指標(biāo)
1、儀器尺寸:550(W)x480(D)x470(H)mm
2、樣品腔尺寸:500*360*215mm;
3、zui低檢測(cè)厚度:0.005um
4、檢測(cè)厚度上限,50 - 80um(視材料而定)
5、zui多測(cè)試層數(shù):10層
6、zui小測(cè)量面積:0.002mm
7、*分辨率:見下面探測(cè)系統(tǒng)詳細(xì)參數(shù)說明
8、準(zhǔn)直器:Φ0.1mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動(dòng)切換
9、濾光片:5種濾光片自動(dòng)切換
10、CCD觀察:260萬(wàn)像素高清CCD
11、樣品微動(dòng)范圍:XY50mm
12、輸入電源:AC220V~240V,50/60Hz
13、額定功率:350W
14、重量:約45Kg
15、工作環(huán)境溫度:溫度15—30℃
16、工作環(huán)境相對(duì)濕度:≤85%(不結(jié)露)
17、穩(wěn)定性:多次測(cè)量重復(fù)性誤差小于0.1%
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